【AI音声版】【エレクトロニクス／MLCC】絶縁劣化と加速試験：寿命試験の条件を読み、前提つきで説明する

講師：【監修】株式会社イーコンプライアンス 代表取締役 村山 浩一 ／ ご注文から1時間程度でご視聴いただけます

MLCCの絶縁劣化を読み解き試験条件を選ぶ MLCCが高温・高電界で弱りやすいのはなぜかを、積層構造と材料の成り立ちからたどります。還元雰囲気での焼成や酸素空孔といった言葉の意味をつかみ、寿命試験の条件書を自分で読み、結果を前提条件つきで説明し、次の試作や社内相談につなげるまでの手順を身につけます。 【対象】MLCCや誘電体材料の開発・評価・品質に配属されたばかりの方 【収録時間】約60分（予定・スライド約65枚・日本語字幕つき） 【内容】 ・第1章　なぜMLCCの絶縁信頼性が問われるのか ・第2章　積層構造と製造の流れを図でつかむ ・第3章　誘電率の高さを支える分極のしくみ ・第4章　還元焼成と欠陥　劣化が始まる場所 ・第5章　高温・高電界で進む絶縁劣化の道筋 ・第6章　加速試験の条件を読み寿命を見積もる ・第7章　初心者がやりがちな解釈の取り違え ・第8章　明日からの手順　記録と依頼の型 ※ ご注文から1時間程度でご視聴いただけます。 ※ 本動画の音声は、AIによる合成音声です。

収録内容