【AI音声版】【エレクトロニクス／半導体】歩留りと汚染解析：汚染の種類を見分け発生工程を絞り込む

講師：【監修】株式会社イーコンプライアンス 代表取締役 村山 浩一 ／ ご注文から1時間程度でご視聴いただけます

不良マップから汚染をたどり歩留りを守る 半導体の前工程に配属された方に向けて、歩留りと欠陥の基本的な数え方から、パーティクル・金属・有機／無機の化学汚染といった主な汚染の見分け方、工程をさかのぼって付着箇所を絞る手順までを、簡単な例で追いながら解説します。明日から不良の相談に自分の見立てを添えられる状態を目指します。 【対象】半導体前工程・歩留り改善・品質保証に配属された初心者の方 【収録時間】約60分（予定・スライド約65枚・日本語字幕つき） 【内容】 ・第1章　なぜ微小な汚れが不良につながるのか ・第2章　歩留りと欠陥の数え方をそろえる ・第3章　主な汚染の種類と現れ方を知る ・第4章　不良の姿から汚染の種類を見分ける ・第5章　工程をさかのぼり付着箇所を絞る ・第6章　測って確かめる分析手法の選び方 ・第7章　思い込みで犯人を決める失敗例 ・第8章　明日からの点検表と報告の型 ※ ご注文から1時間程度でご視聴いただけます。 ※ 本動画の音声は、AIによる合成音声です。

収録内容